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鏡頭托架粗糙度測量
測量要求
掃描鏡頭托架的三維表面，測量其上表面粗糙度主要特點概覽
1.非接觸式測量，一體化設計2.三維形貌掃描，多功能數據處理
3.適用于各種材料的精確測量4.使用簡單，裝拆方便
5.掃描速度快，定位精度高
6.±0.5到±1μm重復精度保證
7.穩定性高，抗干擾能力強
測量結果
上表面粗糙度Sa約為2μm解決現階段測量裝置存在的問題
1.對測量材料有一定要求
2.接觸式測量，對測量材料有損壞
3.測量范圍小，位置不確定，測定困難
4.測量速度慢、精度低，測量誤差大5.結構復雜，成本高
全部分類
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